邊界掃描測試有兩大優(yōu)點：一個是方便芯片的故障定位，迅速準(zhǔn)確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠，提高測試檢驗效率；另一個是，具有JTAG接口的芯片，內(nèi)置一些預(yù)先定義好的功能模式，通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式，以提高系統(tǒng)控制的靈活性和方便系統(tǒng)設(shè)計。現(xiàn)在，所有復(fù)雜的IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口，JTAG控制邏輯簡單方便，易于實現(xiàn)。


		技術(shù)與應(yīng)用


		產(chǎn)品選型

邊界掃描技術(shù)

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